科技成果名称

一种光性能监测方法、装置、电子设备以及存储介质

CN202110643241.8

完成单位

开云电子(中国)·官方网站物理科学与信息工程学院

成果简介

（200-500字）

本发明提供了一种光性能监测方法、装置、电子设备以及存储介质，属于短距光通信中光性能监测技术领域，该方法包括：对待处理SVDD信号进行预处理，以及进行重采样；进行轨迹信息的量化处理，提取轨迹信息中的隐藏特征；对隐藏特征进行匹配。本发明仅需一次特征提取即能够对SVDD‑BPSK、SVDD‑QPSK、SVDD‑8QAM、SVDD‑16QAM、SVDD‑32QAM以及SVDD‑64QAM实现精准的联合调制格式识别、OSNR监测和RCD估计。满足短距通信对低计算复杂度、多参数联合监测，监测精度高的需求。本发明基于轨迹信息中蕴含的丰富的差异性特征，具有应用到骨干光网络和其他线性或非线性损伤监测的潜力。

联系方式

 0635-8239168  薛老师

知识产权情况

发明专利

成果成熟度

○实验室阶段  ○小试阶段  ○中试阶段  √市场化阶段

成果转化方式

√技术转让  ○技术开发  √技术入股  ○股权投资 

○许可使用  ○合作开发  ○其他